CMX除了常规的超声波测厚仪的功能外，增加了B-扫描功能和多种测量模式，包括：- 脉冲-回波(P-E)模式，测量材料厚度- 脉冲-回波涂层(PECT)模式，同时测量材料厚度和涂层厚度- 脉冲-回波温度补偿(PETP)模式，测量材料厚度- 回波-回波(E-E)模式，穿过涂层测量材料厚度- 回波-回波验证(E-EV)模式，穿过涂层测量材料厚度
- 测量涂层(CT)模式，只测量涂层厚度
CMXDL
在CMX的超声波测厚仪基础上，增加了存储功能。CMXDL+在CMXDL超声波测厚仪的基础上，增加了A扫描功能，多种探头类型(包括双晶探头、单晶延迟块探头、单晶接触型探头、单晶笔形探头)，另有彩色屏幕主机可选。技术参数
测量脉冲-回波(P-E)模式测量范围：0.63～1219.2mm(钢)
脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围：0.63～1219.2mm(钢)，0.0254~2.54mm(涂层)脉冲-回波温度补偿(PETP)模式 测量范围：0.63～1219.2mm(钢)回波-回波(E-E)模式测量范围：2.54～152.4mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化)回波-回波验证(E-EV)模式测量范围：2.54～102mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化)测量涂层(CT)模式测量范围：0.0127~2.54mm(涂层)分辨率：0.01mm声速范围：309.88～18542m/s单位：... [详细介绍]